Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość

Wydawnictwo Naukowe PWN
Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
Wysyłka:
1 - 3 dni robocze + czas dostawy
Sugerowana cena
119,00 PLN
Nasza cena
106,84 PLN
Oszczędzasz 11%
Najniższa cena w ciągu ostatnich 30 dni: 106,84 zł

Przedstawiamy wyjątkową publikację – kompendium poświęcone tematyce metrologii i analizie powierzchni. Publikacja powstała dzięki kilkudziesięcioletniemu doświadczeniu w przemyśle oraz dokonaniom badawczym i naukowym jej Autora – profesora dr. hab. Stanisława Adamczaka profesora Politechniki Świętokrzyskiej oraz byłego (dwukrotnego) rektora tejże uczelni. Autor w swojej książce przede wszystkim odnosi się do praktyki przemysłowej, publikacja jest więc bogata w treści przydatne w pracy inżynierskiej, zawiera bardzo dużo ilustracji oraz przykładów zastosowań opisywanych rozwiązań w praktyce. Publikacja kierowana jest przede wszystkim do metrologów, technologów oraz konstruktorów urządzeń i aparatury pomiarowej, pracowników służb kontrolno-pomiarowych i utrzymania ruchu, przemysłu maszynowego i branż pokrewnych czy specjalistów projektowania przemysłowego. Z uwagi na przedstawioną tematykę książka nadaje się również jako lektura dla studentów I i II stopnia kierunków technicznych typu mechanika i budowa maszyn, inżynieria produkcji i materiałowa czy mechatronika, elektrotechnika, inżynieria medyczna czy logistyka.

Szczegóły

  • Rok wydania: 2023
  • Format: 16.5x23.5cm
  • Oprawa: Twarda
  • Tytuł: Metrologia geometryczna powierzchni technologicznych
    Podtytuł: Zarysy kształtu - Falistość – Mikro- i nanochropowatość
    Autor: Stanisław Adamczak
    Wydawnictwo: Wydawnictwo Naukowe PWN
    ISBN: 9788301232962
    Języki: polski
    Rok wydania: 2023
    Ilość stron: 450
    Format: 16.5x23.5cm
    Oprawa: Twarda

    Recenzje